自动特征和粒子分析
以COXEM CX-200plus或EM-30AX NEXT SEM系统为基础平台,可以使用SEM作为一个真正的分析工具,为一个样品中数千个粒子产生高度特定的数据集,并以适合应用需求的各种方式报告该数据。
CX-200plus的SEM目前工作与AZtecLive平台及其EDS探测器由牛津仪器公司或力量XFlash EDS系列使用ESPIRT QuantAXBruker纳米分析平台和EDS探测器。
将自动粒子和特征分析软件添加到您的SEM/EDS,使其成为一个非常强大的分析工具,用于质量控制测试的关键应用,如以下列出:
- 自动化的功能/粒子分析
- phase Mapping和Large Area EDS Mapping
- 污染物分析和颗粒分级加法制造与牛津AZtecAM
- 金属夹杂物分析(钢清洁——ASTME1245/E2142/E45)
- 矿物相分析,矿物解离,矿物模式学,岩石学
- 射击残留物-GSR(ASTME1588)
- 一般粒子分析清洁(ISO16431/184131246年基础,幸福属于1246 e)
- 穿粒子分析(ARP 598c, ASTMD7416, ASTMF311/F312,ISO 16232 - 8,ISO 4407)
- 环境粒子过滤器或湿巾(ASTMD6059, ASTME2090,ISO 14966)
- 注射和注射中的微粒污染静脉输液788年(USP)
清洁度应用可能是该技术最广泛的应用,应用于各种行业的过程控制检查,如汽车组装,发动机组装,计算机硬盘驱动器,航空航天液压和燃料系统和许多其他。狗万活动
多种特殊的样品支架可用于cx -200 +,以适应在这些自动化特征和粒子分析例程中多次取样。以下是一些例子:
SEM存根上的颗粒,包括GSR
地质薄片大面积填图
用于树脂安装和抛光样品(钢铁、矿物)的冶金支架
半导体晶片
不同尺寸的膜过滤器
