自动特征和粒子分析

以COXEM CX-200plus或EM-30AX NEXT SEM系统为基础平台,可以使用SEM作为一个真正的分析工具,为一个样品中数千个粒子产生高度特定的数据集,并以适合应用需求的各种方式报告该数据。

CX-200plus的SEM目前工作与AZtecLive平台及其EDS探测器由牛津仪器公司或力量XFlash EDS系列使用ESPIRT QuantAXBruker纳米分析平台和EDS探测器。

将自动粒子和特征分析软件添加到您的SEM/EDS,使其成为一个非常强大的分析工具,用于质量控制测试的关键应用,如以下列出:

清洁度应用可能是该技术最广泛的应用,应用于各种行业的过程控制检查,如汽车组装,发动机组装,计算机硬盘驱动器,航空航天液压和燃料系统和许多其他。狗万活动

扫描电镜的自动粒子和特征分析
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硬件

多种特殊的样品支架可用于cx -200 +,以适应在这些自动化特征和粒子分析例程中多次取样。以下是一些例子:

EM-Tec CS25-4多针存根支架

SEM存根上的颗粒,包括GSR

地质薄片大面积填图

用于树脂安装和抛光样品(钢铁、矿物)的冶金支架

半导体晶片

不同尺寸的膜过滤器

软件

AZtecFeature:最新进展和新应用

AZtecGSR射击残留物分析:

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AZtecEnergy中的大面积映射:

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矿物单体解离分析: